中国质量协会全面质量管理(第18章统计过程控制)样题

第18章统计过程控制

一、填空题

1.企业对产品关键质量特性(连续数据)进行监控,由于产品批量不高,可以采用(单值-移动极差)控制图。

2.过程能力Cp的计算公式是((USL-LSL)/6σ)。

3.在使用均值-极差控制图时,应先对(极差控制图)进行分析。

4.过程能力Cp与Cpk差异很大,说明(过程中心偏离目标值)。

5.如果将一个点超出控制界限的情况判为过程稳定,则误判的概率是(0.27%)。

6.在计算过程能力Cp、Cpk时,应保证采集数据时(过程稳定)。

7.在控制图中,上控制界限用符号(UCL)表示;中心线用符号(CL)表示;下控制界限用符号(LCL)表示。

8.在生产制造过程,导致质量特性波动的因素根据来源的不同,可分为(人)、(机)、(料)、(法)、(环)、(测)6个方面,简称为5M1E。

9.统计过程控制就是应用(统计技术)对过程中的各个阶段进行(监控),从而达到改进与保证(产品质量)的目的。

10.常规控制图的种类很多,一般按数据的性质分成(计量)控制图和(计数)控制图两大类。

二、判断题

1.控制图稳定说明过程可以输出合格产品。(X)

2.Cp=1.67,说明过程能力充分。(X)

3.使用均值-极差控制图,应先分析均值图,再分析极差图。(X)

4.使用c或u控制图时,应使用4个判别准则进行判断。(√)

5.如果控制界限使用2σ替代3σ,会导致虚报警概率增加。(√)

6.控制图确定合理子组的原则是组内波动大于组间波动。(X)

7.对产品的缺陷数量进行监控,可以使用p控制图。(X)

8.过程能力指数Cpk小于等于Cp。(√)

9.Cp是衡量过程能力的指数,它考虑了过程波动与规范限的比较,同时也考虑了偏移。(X)

10.质量波动是完全可以避免的,只要控制住影响过程(工序)质量的6个因素。(X)

三、单项选择题

1.绘制控制图时,确定合理子组的基本原则是(D)。

A.子组大小最好应控制在6以下

B.组内波动应大于组间波动

C.子组内应不存在差异

D.子组内的波动应由随机因素导致

2.企业准备采用控制图监控半导体的生产,每天统计报废产品数量,且每天产量变化,应使用的以下控制图是(B)。

A.p图或np图

B.只能使用p图

C.使用c图或u图

D.只能使用u图

3.常规控制图一般有8个判断异常的检验准则,假设每个检验的虚发警报概率都是0.27%,且每个虚发警报都是独立的,那么同时使用

8个检验准则,则虚发警报的概率会增加至(C)。

A.0.5%

B.1%

C.2%

D.3%

4.从生产线上收集一周的数据,汇总如下表,如果实施统计过程控制,选择以下控制图最合适的是(C)。

A.均值-极差控制图

B.np控制图

C.p控制图

D.u控制图

5.普通因素通常引起过程随机波动,下面属于普通因素的是(D)。

A.错误的工具

B.不适当的材料

C.机器的不适当调整

D.材料硬度的微小变化

6.某工程师经过分析,选择使用Xbar-S控制图进行过程控制,构造该控制图时正确的抽样方式是(C)。

A.以最方便的方式抽取子组,子组大小为10

B.在生产线上随机抽取子组,子组大小为5

C.按照生产次序抽取子组,子组大小为10

D.按照生产批次抽取,子组大小为5

7.控制图的上下控制限与上下公差限的关系是(D)。

A.上下控制限的范围一定与上下公差限的范围相同

B.上下控制限的范围一定比上下公差限的范围宽

C.上下控制限的范围一定比上下公差限的范围窄

D.上下控制限的范围与上下公差限的范围是相互独立的

8.供应商提供的垫片厚度对产品质量特性的影响较大,垫片厚度的公差要求是12±lmm,供应商提供的过程能力报告中说明:

Cp=1.33,Cpk=1.00,对于垫片的生产过程可以得出结论(A)。

A.平均值偏离目标大约0.25mm

B.平均值偏离目标大约0_5mm

C.平均值偏离目标大约0.75mm

D.以上都不准确

9.对于一个稳定的分布为正态的生产过程,计算过程能力指数Cp=1.65,Cpk=0.92。应该对生产过程作出下列判断(B)。

A.过程的均值偏离目标太远,且过程的标准差太大

B.过程的均值偏离目标太远,过程的标准差尚可C.过程的均值偏离目标尚可,但过程的标准差太大

D.对于过程的均值偏离目标情况及过程的标准差不能作出判断

10.从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是(C)。

A.过程处于统计控制状态

B.具有足够的生产能力

C.过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力

D.过程处于统计控制状态,不必考虑过程能力

四、多项选择题

1.下列情况中可以判异的有(BCE)。

A.连续5点中有4点落在中心线同一侧的B区以外

B.连续15点落在中心线两侧的C区内

C.连续9点落在中心线同一侧

D.连续3点递增或递减

E.连续14点中相邻点交替上下

2.以下关于规范限和控制限的说法中,正确的是(AC)。

A.规范限来自客户要求,而控制限基于过程波动

B.规范限是对单个产品而言,控制限是由统计量设定的

C.规范限用于判定是否合格,控制限用于判定过程是否稳定

D.规范限来自顾客需求,所以比控制限范围宽

E.规范限与控制限的定义类似,两者具备相同的功能

3.下列关于过程能力指数的分析,正确的是(ABC)。

A.若计算出的Cp=0.89,Cpk=0.84,则说明该过程σ太大,低该过程的波动应首先考虑降低该过程的波动

B.若计算出的Cp=1.5,Cpk=0.84,则说明该过程均值偏离规范中心太多,应首先考虑改善过程均值,使之靠近规范中心

C.若计算出的Cp=0.89,Cpk=0.32,则说明该过程的均值和σ均有问题,既应考虑改善过程均值,也应设法降低过程波动

D.若计算出的Cp=0.32,Cpk=0.32,则说明该过程的均值和σ均有问题,应首先设法降低过程波动,然后考虑改善过程均值

E.只要Cpk的计算结果<1.33,应该首先考虑降低过程波动

4.过程能力的大小与过程的波动有很大关系,以下哪种说法是正确的(AD)。

A.过程的标准差越大,过程能力越小

B.过程的标准差越大,过程能力越大

C.过程的标准差越小,过程能力越小

D.过程的标准差越小,过程能力越大

E.过程能力的大小与过程标准差无关

5.在芯片生产车间,每天抽8块芯片检查其瑕疵点个数。为了监测瑕疵点数,对于控制图的选用,下列正确的是(AB)。

A.使用c控制图最方便

B.也可以使用u控制图,效果和c控制图相同

C.也可以使用p控制图,效果和c控制图相同

D.使用np控制图,效果和c控制图相同E.使用p或np图都可以

五、简答题